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      X光定向儀

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      X光定向儀

      • 所屬分類:X光定向儀

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      • 發布日期:2016/12/07
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      X光定向儀

      X光定向儀產品簡介:該儀器是光機電一體化精密儀器,采用主機與電器控制分體化,體積小、重量輕,是各種單晶材料期間的科研部門和生產行業較為理想的儀器。

      射線在穿透物體過程中會與物質發生相互作用,因吸收和散射而使其強度減弱。強度衰減取決于物質的衰減系數和射線在物質中的穿越厚度。如果被透照物體的局部存在缺陷,且構成缺陷的物質的衰減系數又不同于試件,該局部區域的透過射線強度就會與周圍產生差異。把膠片放在適當位置使其在透過射線的作用下感光,經暗室處理后得到底片。底片上各點的黑化程度取決于射線照射量(又稱曝光量,等于射線強度乘以照射時間),由于缺陷部位和完好部位的透射射線強度不同,底片上相應部位就會出現黑度差異。

      射線照相法容易檢出那些形成局部厚度差的缺陷。對氣孔和夾渣之類缺陷有很高的檢出率,對裂紋類缺陷的檢出率則受透照角度的影響。它不能檢出垂直透照方向的薄層缺陷,例如鋼板的分層。


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